h1_key

當(dāng)前位置:首頁 >新聞資訊 > 技術(shù)文章>意法半導(dǎo)體>ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管
ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管
2023-02-10 701次

  在如今的出行生態(tài)系統(tǒng)不斷給汽車設(shè)計帶來新的挑戰(zhàn),比如在電子解決方案的尺寸、可靠性和安全性方面提出新的要求。隨著汽車電控制單元 (ECU)

  增加了互聯(lián)和云計算功能,必須開發(fā)新的解決方案去來應(yīng)對這些技術(shù)挑戰(zhàn)。

  在高端車輛使用數(shù)量多達數(shù)百個EUC,這也要求了電源管理必須更高效,汽車電池和負載點之間的電源路徑更加安全,以減少電子器件失效的情況發(fā)生。用電子保險(eFuse)代替?zhèn)鹘y(tǒng)保險絲,可以大大提高電氣安全性。傳統(tǒng)保險絲在導(dǎo)體過載時就會過熱融化,而電子保險絲則是控制輸出電壓,限制輸出電流,為負載提供正確的電壓與電流;而在失效持續(xù)出現(xiàn)時,最終斷開負載連接。大電流在用電環(huán)境時處理高能放電方面提出了嚴格的要求,因此,需要魯棒性和可靠性更俱佳的功率開關(guān)管。

 

  大電流功率開關(guān)管

  大電流功率開關(guān)管是一個串聯(lián)到主電源軌并由邏輯電路控制的低電阻MOSFET晶體管,集成了各種保護、診斷和檢測功能。在大功率汽車電源系統(tǒng)中,通過背靠背連接的 MOSFET開關(guān)管,可以保證保險盒對電流雙向控制,為電源路徑提供強大的保護(圖 1)。


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 1. 雙向大電流功率開關(guān)保護配置


  電阻器 (RLIM)實時檢測電源軌電流,eFuse電子保險調(diào)整 MOSFET的柵源電壓(VGS),將電流限制在目標(biāo)值,保持電流恒定。如果發(fā)生強過流或短路,控制器就會斷開負載,保護電源。

  在負載開通時,eFuse按照預(yù)設(shè)值提高輸出電壓,確保涌流保持在安全范圍內(nèi),從而保護負載和電源。這種情況對功率 MOSFET提出了嚴格的要求,它們必須經(jīng)受住ECU 輸入端的大容量電容器陣列的軟充電階段線性模式的恒定電流。

  當(dāng)負載斷開時,與連接主電池和終端應(yīng)用負載的線束相關(guān)的寄生雜散電感釋放能量,功率 MOSFET處于電壓應(yīng)力狀態(tài)。

  總之,功率 MOSFET 必須滿足以下要求(表 1):


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  表1.對功率MOSFET的要求


  意法半導(dǎo)體新推出的STPOWER STripFET F8 MOSFET技術(shù)完全符合 AEC Q101 標(biāo)準(zhǔn),體現(xiàn)了所有的設(shè)計重大改進之處,確保開關(guān)管具有高能效和高魯棒性,從而實現(xiàn)安全可靠的開關(guān)性能。

  STL325N4LF8AG 是一款 40V MOSFET,采用 PowerFLAT 5x6 無引線封裝,靜態(tài)導(dǎo)通電阻(RDS(on))不足一毫歐,小于0.75m?,因此,導(dǎo)通損耗非常低。


  MOSFET選型關(guān)鍵參數(shù)

  對于12V 鉛酸電池供電的傳統(tǒng)汽車負載,功率開關(guān)必須承受 ECU要求的高達 160 A 至 200 A 的連續(xù)電流,以實現(xiàn) 1kW 范圍內(nèi)的功率輸出。


  1. 開通狀態(tài)

  除了大電流之外,功率 MOSFET 還必須耐受 ECU 輸入端的大容量電容器陣列的預(yù)充電階段軟點火所需的恒定電流,使ECU 輸入引腳上的電壓上升平滑,從而避免任何高壓振蕩和電流尖峰。

  可以用圖 2 所示的基準(zhǔn)電路圖測試開關(guān)管在軟充電階段的魯棒性。


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 2. 軟充電魯棒性驗證基準(zhǔn)電路


  該電路可以用恒定電流對負載電容 (CLOAD)充電:通過調(diào)節(jié) V1和 VDD電壓值,可以使電流保持恒定,從而為 CLOAD設(shè)置特定的充電時間。 測試電容是94mF堆棧電容 ,負載和電源電壓為 15V。

  對于 STL325N4LF8AG,考慮了兩種不同的測量設(shè)置情況:

   ●案例1:一個開關(guān)管,電流為1.7A,持續(xù)700ms;

   案例 2:兩個并聯(lián)的開關(guān)管,每個開關(guān)的電流為 29A,持續(xù) 6ms。

  圖 3 是案例1的線性模式操作的測量波形,圖4是案例2的線性模式操作的測量波形。


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 3. 軟充電期間的基準(zhǔn)測試測量(案例 1)


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 4. 軟充電期間的基準(zhǔn)測試測量(案例2)


  在案例 1 中,使用接近直流操作的長脈沖時間測試功率開關(guān)的線性模式魯棒性。

  在案例2 中,并聯(lián)的兩個功率開關(guān)管的柵極閾壓(Vth)值如下:

  Vth1 = 1.49V @ 250μA

  Vth2 = 1.53V @ 250μA.


  Vth的閾值范圍被限定在一定范圍內(nèi)( 3%),使兩個 MOSFET的電流差很?。?/span>

  ID1 = 29A

  ID2 = 28.5A

  其中,Vth1的值較低,所以 ID1略高于 ID2。

  在這種情況下 (案例2),用大電流測試功率開關(guān)的線性模式魯棒性,脈沖時間持續(xù)幾毫秒。

  在這兩種情況下,功率 MOSFET 都能夠承受線性模式工作條件,均在理論安全工作區(qū) (SOA) 范圍內(nèi),防止器件出現(xiàn)任何熱失控。


  2. 關(guān)斷狀態(tài)

  在關(guān)斷時,功率 MOSFET必須承受巨大的能量放電應(yīng)力。事實上,在連接主電池和終端應(yīng)用控制板的線束上,寄生雜散電感會產(chǎn)生高阻抗,造成配電系統(tǒng)出現(xiàn)一次能量巨大的放電事件。

  在ECU電控單元情況中,這種能量釋放可以視為 MOSFET 關(guān)斷時的單次雪崩事件來處理,或用有源鉗位電路強制MOSFET回到線性工作模式。TL325N4LF8AG可以在40A的雪崩擊穿測試中保持正常工作,如圖5所示:


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 5. STL325N4LF8AG在關(guān)斷時單次雪崩事件的測量波形


  該器件在關(guān)斷狀態(tài)時具有強大的能量處理性能。

  符合ISO 7637-2標(biāo)準(zhǔn)

  對于 12V/24V 汽車電源系統(tǒng),eFuse電子保險開關(guān)管必須滿足ISO 7637-2 國際標(biāo)準(zhǔn)的主要規(guī)定,能夠耐受電源軌上產(chǎn)生的劇烈的高低電能瞬變事件,在某些情況下伴隨很高的dv/dt電壓上升速率。

  1. ISO 7637-2 Pulse 1標(biāo)準(zhǔn)

  Pulse 1 標(biāo)準(zhǔn)描述了當(dāng)電源連接斷開時,在與感性負載并聯(lián)的電子器件上觀察到的負電壓瞬變,如圖 6 所示。


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 6. ISO 7637-2 Pulse 1 測試的電壓瞬變波形和參數(shù)


  圖 7 所示的測試結(jié)果證明,STL325N4LF8AG 符合 ISO 7637-2 Pulse 1標(biāo)準(zhǔn)要求:


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 7. STL325N4LF8AG的 ISO 7637-2 Pulse 1測試的測量波形(右圖是放大圖)


  實驗數(shù)據(jù)證明,STL325N4LF8AG 通過了 ISO 7637-2 脈沖 1 測試,沒有發(fā)生任何失效或主要額定參數(shù)降低現(xiàn)象。


  2. ISO 7637-2 Pulse 2°標(biāo)準(zhǔn)

  Pulse 2a標(biāo)準(zhǔn)描述了當(dāng)與被測電子器件并聯(lián)的電路電流中斷時可能出現(xiàn)的正電壓尖峰,如圖 8 所示:


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 8. STL325N4LF8AG的 ISO 7637-2 Pulse 2a測試的電壓瞬變波形和參數(shù)


  圖 9 所示的測試結(jié)果證明,STL325N4LF8AG 符合 ISO 7637-2 Pulse 2a標(biāo)準(zhǔn)要求:


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 9. STL325N4LF8AG的 ISO 7637-2 Pulse 2a測試的測量波形(右圖是放大圖)


  實驗數(shù)據(jù)證明,STL325N4LF8AG 通過了 ISO 7637-2 脈沖2a測試,沒有發(fā)生任何失效或主要額定參數(shù)降低現(xiàn)象。

  3. ISO 7637-2 Pulses 3a 和 3b標(biāo)準(zhǔn)

  Pulses 3a 和 3b定義了受線束分布電容和電感的影響,在開關(guān)過程可能出現(xiàn)的負電壓尖峰,如圖 11 和圖12 所示:


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 10. ISO 7637-2 pulse 3a 測試的電壓瞬變


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 11. ISO 7637-2 pulse 3b測試的電壓瞬變


  表2列出了各項參數(shù)的測量值:



  表 2. ISO 7637-2 pulses 3a和 3b測試的電壓瞬態(tài)參數(shù)


  圖 12 和 13是STL325N4LF8AG的ISO 7637-2 pulse 3a 和 pulse 3b測試相關(guān)的實驗數(shù)據(jù):


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 12. STL325N4LF8AG的 ISO 7637-2 pulse 3a測試測量波形(右圖是放大圖)


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 13. STL325N4LF8AG的 ISO 7637-2 pulse 3b測試的測量波形(右圖是放大圖)


  STL325N4LF8AG的pulse 3a和3b測試結(jié)果令人滿意。

  4. ISO 7637-2 脈沖 5a 和 5b(負載突降)

  Pulses 5a 和5b是對負載突降瞬變電壓的模擬測試。負載突降是指在交流發(fā)電機產(chǎn)生充電電流的期間,放電電池斷開連接,同時其他負載仍連接交流發(fā)電機的情況,如圖 14 和15 所示:



  圖 14. ISO 7637-2 pulse 5a測試的電壓瞬變



  圖 15. ISO 7637-2 pulse 5b測試的電壓瞬變


  表3列出了12V 系統(tǒng)的測試參數(shù)值:



  表 3. ISO 7637-2 pulses 5a 和 5b 測試的電壓瞬態(tài)參數(shù)


  圖 17和圖18所示是STL325N4LF8AG 的 ISO 7637-2 pulse 5a 和pulse 5b 測試的測量波形:


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 16. STL325N4LF8AG的ISO 7637-2 pulse 5a測試的測量波形


ST(意法半導(dǎo)體)車規(guī)MOSFET大電流功率開關(guān)管


  圖 17. STL325N4LF8AG的ISO 7637-2 pulse 5 b測試的測量波形


  因此,STL325N4LF8AG 也可以為系統(tǒng)提供負載突降保護。


  結(jié)論

  STL325N4LF8AG采用意法半導(dǎo)體新開發(fā)的STripFET F8制造技術(shù),為應(yīng)對eFuse電子保險應(yīng)用的所有相關(guān)電壓應(yīng)力狀況而專門設(shè)計,在電源關(guān)閉和開通狀態(tài),能夠承受相關(guān)的電壓應(yīng)力。此外,該MOSFET還通過了國際標(biāo)準(zhǔn) ISO 7637-2規(guī)定的12V/24V汽車電池系統(tǒng)導(dǎo)通瞬變測試。同級一流的性能使 STL325N4LF8AG 成為在惡劣的汽車應(yīng)用中設(shè)計更安全的配電系統(tǒng)的理想選擇。

  • 意法半導(dǎo)體STM32H743IIT6高性能MCU深度剖析
  • 意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics)的 STM32H743IIT6 是一款備受矚目的高性能微控制器,在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域中具有重要的地位。本文將對其產(chǎn)品參數(shù)進行專業(yè)準(zhǔn)確的介紹。STM32H743IIT6 基于 Arm? Cortex?-M7 內(nèi)核,主頻高達 480MHz,具備強大的計算能力和高效的處理性能。這使得該微控制器能夠輕松應(yīng)對復(fù)雜的計算任務(wù)和實時性要求較高的應(yīng)用場景。
    2024-07-08 218次
  • 意法半導(dǎo)體STM32F722RET6性能和穩(wěn)定性
  • 在當(dāng)今高度智能化和數(shù)字化的時代,微控制器作為電子系統(tǒng)的核心組件,其性能和功能的優(yōu)劣直接決定了整個系統(tǒng)的運行效果和應(yīng)用范圍。意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics)推出的 STM32F722RET6 微控制器,以其出色的性能、豐富的功能和可靠的穩(wěn)定性,成為眾多應(yīng)用領(lǐng)域的理想之選。
    2024-07-05 227次
  • 意法半導(dǎo)體STM32F723ZET6高性能MCU卓越之選
  • 在當(dāng)今電子技術(shù)領(lǐng)域,MCU作為系統(tǒng)的核心組件,其性能和功能直接影響著整個系統(tǒng)的運行效果和應(yīng)用范圍。意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics)推出的 STM32F723ZET6 微控制器,以其出色的性能和豐富的功能,成為眾多應(yīng)用場景中的理想選擇。STM32F723ZET6 基于高性能的 Arm? Cortex?-M7 內(nèi)核,運行頻率高達 216 MHz,能夠提供強大的計算能力和快速的響應(yīng)速度。這使得它在處理復(fù)雜的算法和實時任務(wù)時表現(xiàn)出色,為系統(tǒng)的高效運行提供了有力保障。
    2024-07-05 191次
  • 意法半導(dǎo)體 STM32F746IGT6高性能低功耗優(yōu)勢
  • 意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics)的 STM32F746IGT6 就是這樣一款令人矚目的產(chǎn)品,它以出色的性能和豐富的特性成為眾多嵌入式系統(tǒng)的理想選擇。STM32F746IGT6 基于高性能的 Arm? Cortex?-M7 內(nèi)核,工作頻率高達 216 MHz,這使其具備強大的數(shù)據(jù)處理能力和快速的響應(yīng)速度,能夠輕松應(yīng)對復(fù)雜的計算任務(wù)和實時性要求極高的應(yīng)用場景。
    2024-07-05 162次
  • 意法半導(dǎo)體STM32F750Z8T6高頻率運行
  • 意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics)推出的 STM32F750Z8T6基于高性能的Arm? Cortex?-M7內(nèi)核,運行頻率高達 216 MHz,能夠為各種復(fù)雜的任務(wù)提供強大的計算能力。其內(nèi)核架構(gòu)經(jīng)過優(yōu)化,具備高效的指令執(zhí)行效率和低延遲響應(yīng)特性,使得系統(tǒng)能夠快速處理數(shù)據(jù)和執(zhí)行指令。
    2024-07-05 201次

    萬聯(lián)芯微信公眾號

    元器件現(xiàn)貨+BOM配單+PCBA制造平臺
    關(guān)注公眾號,優(yōu)惠活動早知道!
    10s
    溫馨提示:
    訂單商品問題請移至我的售后服務(wù)提交售后申請,其他需投訴問題可移至我的投訴提交,我們將在第一時間給您答復(fù)
    返回頂部